为了研究材料吸水的影响，测量了含不同缺陷(缺陷长度60 m m)以及经过不同预处理样品的泄露电流。预处理方法包括50℃干燥、蒸馏水中水煮24h和66h，以及水煮后重新干燥(50℃)。在正常环境下进行试验，无人造雾，环境温度T=25℃±1，相对湿度RH=60％～70％。如果没有特殊说明，下面所得的泄露电流都是在电压稳定1 m in后测量的结果。

对以下进行试验的样品，当试验电压低于29kV时，所有样品的泄露电流均低于0.2 m A(图3)。泄漏电流结果显示：含铜片缺陷的复合绝缘子在试验电压约为9kV时出现了内部局部放电。而对于含木片缺陷的样品，同样在试验电压高于29kV时观察到内部局部放电现象的发生。

经过水煮之后，样品的泄露电流发生显著变化。对于经过24 h水煮的样品，含木片与含区域脱粘的样品的泄露电流值，分别在试验电压为21 kV与25 kV时出现了明显的上升(图4)。而对于经过66 h水煮的样品，在所有样品中均出现了泄露电流幅值的大幅升高(图5)

在试验过程中，当泄露电流大幅度升高时．通过红外相机也可以观察到复合绝缘子样品表面温度上升，并且在缺陷位置附近出现局部发热点(图6、图7)。只有不含缺陷的完好的参照绝缘子的泄露电流与表面温度分布没有明显的变化。http://www.zhenghangsy.net